Date : 29 septembre 2023 13:30 - Type : Thesis - Kenneth Ifeanyi EZUKWOKE - Amphi A22 - Espace Fauriel
Modèles probabilistes à base de graphes intégrés à une architecture de langage de grande taille pour la prise de décision dans l'analyse des défaillances: Application àl'industrie des semi-conducteurs |
L'analyse des défaillances (FA) 4.0 apparait comme essentielle dans le cades de l'industrie numérique, visant à garantir la fiabilité et la sécurité maximales des systèmes électroniques de plus en plus complexes dans diverses applications, notamment les véhicules autonomes et la production industrielle numérique (Industrie 4.0). Actuellement, l'analyse des défaillances est principalement realisée par l'expertise humaine, impliquant des processus laborieux et se concentrant sur des tâches individuelles issues de la production, des tests de fiabilité et des retours sur le terrain. Cependant, ces procédures chronophages limitent l'analyse globale des données combinant des tests électriques, matériaux et de métrologie tout au long du flux d'analyse. Pour relever ces défis, le projet FA 4.0 vise à fournir des outils et des méthodologies innovants basés sur l'intelligence artificielle qui soutiennent l'analyse experte des défaillances tout au long du développement et de la fabrication de composants et de systèmes électroniques.
Mots clés: Analyse de l'origine de défaillances, Traitement de Langues naturelles, Apprentissage de l'espace de représentation, Génération de Texte Naturel.
Le jury de cette soutenance de thèse de doctorat est composé de :
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Massih-Reza Amini Professeur Universiteé Grenoble Alpes Examinateur
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Yannis Haralambous Professeur IMT Atlantique BREST Rapporteur
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Matthieu PUIGT Maitre de conférence HDR Université du Littoral Côte d'Opale Rapporteur
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Anis Hoayek Maître de conférence Ecole des mines de Saint-Etienne Co-encadrant
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Mireille Batton-Hubert Professeure Ecole des mines de Saint-Etienne Directrice de thèse
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Xavier Boucher Professeur Ecole des mines de Saint-Etienne Co-directeur de thèse
- Pascal Gounet Analyste des défaillances physiques Engr. STMicroelectronics Invité